03 CHARACTERIZATION
分析表征
CATEGORIES
分析表征分类
分析表征
成分元素
元素、离子、组分、金属含量与有机/无机成分定量。
27 项 →
分析表征
形貌结构
显微成像、截面制样、三维重构、晶粒取向与形貌统计。
16 项 →
分析表征
谱学物相
XRD、Raman、FTIR、NMR、同步辐射与晶体/光谱结构分析。
25 项 →
分析表征
性能可靠性
热、力、电、生物、电化学、环境可靠性与功能性能测试。
35 项 →
分析表征
粒径与分散性
粒径分布、Zeta 电位、分子量分布和分散稳定性分析。
3 项 →
分析表征
孔隙结构与比表面积
BET、孔容、孔径、SAXS 与介孔/孔隙结构数据解析。
3 项 →
分析表征
表面界面与润湿性
XPS、UPS、AFM、TOF-SIMS、接触角与界面状态分析。
15 项 →PROJECTS
代表项目
谱学物相
XRD物相分析
XRD图谱、PDF卡片匹配、晶面标注
谱学物相
XRD-Rietveld精修
CIF解析、晶胞参数、相含量、占位率
谱学物相
原位XRD加热冷却
原位XRD图谱、相变过程、堆叠图
表面界面与润湿性
XPS全谱分析
survey、核心能级拟合、价态分析；按XPS全谱+精细谱综合项目参考；仅Survey全谱可另行核价。
表面界面与润湿性
XPS高分辨谱分析
survey、核心能级拟合、价态分析
表面界面与润湿性
UPS紫外光电子能谱
UPS谱图、功函数、价带结构
表面界面与润湿性
AES俄歇电子能谱
表面元素定性/半定量、微区成分分析；深度剖析可选
表面界面与润湿性
TOF-SIMS表面分析
离子碎片、深度曲线、二维成像
表面界面与润湿性
深度剖面分析
深度剖析曲线、不同深度价态；按XPS深度剖析参考；TOF-SIMS深度剖析参考价为3500元/样。
谱学物相
软X射线吸收谱
价态、配位数、R空间拟合；按XAFS同步辐射项目参考；软X射线具体价格受吸收边、机时和含量影响。
谱学物相
FTIR红外光谱
官能团峰位、谱图、峰归属表
谱学物相
Raman拉曼光谱
Raman谱图、峰位标注、结构解释
谱学物相
发光材料能级与复合分析
寿命衰减曲线；主参考为荧光寿命240元/样；稳态荧光100元/谱，量子产率220元/样。
谱学物相
UV-Vis紫外可见光谱
吸收/反射/透射
性能可靠性
EIS电化学阻抗
Nyquist/Bode图、等效电路拟合
谱学物相
NMR核磁共振
核磁谱图、化学位移、积分；主参考为液体NMR 80元/样；固体NMR参考600元/样。
谱学物相
EPR电子顺磁共振
EPR谱图、g值、峰强对比
性能可靠性
TGA热重分析
TGA曲线、失重阶段、残炭率
性能可靠性
DSC差示扫描量热
DSC曲线、Tg/Tm/Tc/焓变
性能可靠性
TMA热机械分析
CTE、软化温度、尺寸变化-温度曲线
性能可靠性
DMA动态机械分析
-150-500℃动态力学
孔隙结构与比表面积
气体吸附脱附
N2吸脱附、BET、BJH/DFT孔径分布；按BET氮气吸脱附全套350元/样参考。
孔隙结构与比表面积
介孔结构分析
N2吸脱附、BET、BJH/DFT孔径分布；按BET孔结构全套350元/样参考；仅BET数据分析为200元/谱。
形貌结构
SEM扫描电子显微镜
FE-SEM形貌图、倍率标注、代表视野
AI/模拟
表征/耗材